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盛陽淺談:集成電路布圖設(shè)計專有權(quán)

返回列表 來源:盛陽專利 發(fā)布日期:2024-02-23 10:01:00
盛陽淺談:集成電路布圖設(shè)計專有權(quán)
盛陽淺談:集成電路布圖設(shè)計專有權(quán)


  • 根據(jù)《集成電路布圖設(shè)計保護條例》(以下簡稱《條例》)第八條的規(guī)定,只有經(jīng)過登記的集成電路布圖設(shè)計才能獲得專有權(quán)保護,登記是獲得專有權(quán)的必要條件。
  • 根據(jù)《條例》第十六條與《集成電路布圖設(shè)計保護條例實施細則》(以下簡稱《細則》)第十四條的規(guī)定,申請布圖設(shè)計登記應(yīng)當提交布圖設(shè)計的復(fù)制件或者圖樣;可以同時提供該復(fù)制件或者圖樣的電子版本,電子版本應(yīng)當包含該布圖設(shè)計的全部信息;布圖設(shè)計已投入商業(yè)利用的,還應(yīng)當提交含有該布圖設(shè)計的集成電路樣品。
 
通常,布圖設(shè)計專有權(quán)的權(quán)利載體包括兩種形式:復(fù)制件或圖樣、含有該復(fù)制件或圖樣的集成電路樣品。兩種載體形式所反映的布圖設(shè)計應(yīng)當是相同的。
記備案時,申請人提交的集成電路樣品內(nèi)部反映的布圖設(shè)計應(yīng)當與其提交的復(fù)制件或圖樣所反映的布圖設(shè)計是一致的。但有些申請人提交的復(fù)制件或圖樣與集成電路樣品所反映的布圖設(shè)計存在不同。此時權(quán)利載體是以復(fù)制件或圖樣為準,還是以集成電路樣品為準,并沒有一個統(tǒng)一標準。
 
隨著集成電路技術(shù)的不斷發(fā)展,傳統(tǒng)意義上的復(fù)制件或圖樣已經(jīng)無法清楚完整地展示集成電路內(nèi)部布圖設(shè)計的全部細節(jié),至少需要放大千倍以上才能看清楚集成電路內(nèi)部的層次和具體細節(jié)。對于納米技術(shù)而言,放大倍數(shù)要求更高。
在登記環(huán)節(jié),對于比較復(fù)雜的集成電路布圖設(shè)計來說,要求申請人提交一份能夠清楚完整地展示布圖設(shè)計全部細節(jié)的復(fù)制件或圖樣,顯得過于苛求,申請成本也過于高昂。因此有些申請人在登記備案時提交的復(fù)制件或圖樣,并不能夠清晰表達布圖設(shè)計的全部細節(jié)。單獨依靠這種不夠清晰的復(fù)制件或圖樣,無法與被控侵權(quán)布圖設(shè)計進行準確的對比分析,不利于查明侵權(quán)事實。
申請人在登記備案時提交的集成電路樣品,經(jīng)過專業(yè)手段處理后能夠清楚準確地呈現(xiàn)布圖設(shè)計的任何細微之處,在此基礎(chǔ)上與被控侵權(quán)布圖設(shè)計進行對比分析,能更準確地判斷侵權(quán)是否成立??梢?,集成電路樣品可以作為復(fù)制件或圖樣的補充,當?shù)怯泜浒傅膹?fù)制件或圖樣所反映的布圖設(shè)計存在某些細節(jié)不夠清晰,對侵權(quán)判斷存在影響時,在集成電路樣品與復(fù)制件或圖樣一致的前提下,可以使用樣品呈現(xiàn)的布圖設(shè)計來明確復(fù)制件或圖樣的細節(jié)。
 
綜上所述,在司法實踐中,關(guān)于權(quán)利載體的效力認定問題,行政執(zhí)法委員會認為:

  • 登記時尚未投入商業(yè)利用的布圖設(shè)計,以復(fù)制件或圖樣為準。
  • 登記時已投入商業(yè)利用的布圖設(shè)計,復(fù)制件或圖樣能夠清晰完整地呈現(xiàn)布圖設(shè)計全部細節(jié)的,以復(fù)制件或圖樣為準;
  • 復(fù)制件或圖樣的細節(jié)不夠清晰,單獨依靠復(fù)制件或圖樣無法界定專有權(quán)保護范圍的情況下,集成電路樣品與復(fù)制件或圖樣呈現(xiàn)的布圖設(shè)計一致時,可以參考集成電路樣品來明確復(fù)制件或圖樣不清晰的細節(jié)。
  •  
關(guān)于如何確定布圖設(shè)計專有權(quán)保護范圍,在司法時間中,行政執(zhí)法委員會認為:
  • 鑒于布圖設(shè)計登記時不要求聲明其獨創(chuàng)性,在侵權(quán)糾紛中,應(yīng)依據(jù)權(quán)利載體載明的布圖設(shè)計,結(jié)合權(quán)利人在請求書中作出的獨創(chuàng)性聲明,確定權(quán)利人主張的專有權(quán)保護范圍,并以此保護范圍為準判斷侵權(quán)行為是否成立。
  • 此外,對于權(quán)利人在獨創(chuàng)性聲明中涉及設(shè)計思想、功能的描述,在確定布圖設(shè)計專有權(quán)保護范圍時不予考慮。

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